5520A-SC1100 |Optionales 1-GHz-Modul zur Kalibrierung von Oszilloskopen
Modell-Nr.: 5520A-SC1100
Nicht mehr hergestellt
Wichtigste Merkmale
- Voltage source (dc and square wave) for vertical amplitude calibration.
- Edge source including a variable 300 ps fast edge with low aberrations – for verifying dynamic response.
- Leveled sine wave generator to 1.1 GHz, with excellent flatness and amplitude accuracy – for verifying bandwidth.
- Time marks in sawtooth, square, 20% pulse and sine wave forms from 5 seconds to 1 ns with 2.5 ppm frequency stability and low jitter – for horizontal time base calibration.
- Input resistance, capacitance and overload testing.
- Wave form generator with square, sine, triangle wave forms – for extended test capability.
- TV trigger for NTSC, SECAM, PAL and PAL-M with line marker.
- External trigger output for time marks, fast edge, voltage and pulse modes.
- Pulse generator with variable width and period to verify trigger pulse width responses and horizontal deflection.
- External clock reference.
Dieses Produkt wird nicht mehr hergestellt oder wurde neu klassifiziert.
Produktübersicht: 5520A-SC1100 |Optionales 1-GHz-Modul zur Kalibrierung von Oszilloskopen
Das optionale Modul 5520A-SC1100 erweitert den 5520A um eine leistungsfähige neue Funktion:
- Spannungsquelle (Gleichspannung und Rechteckspannung) für die Kalibrierung von vertikalen Amplituden.
- Flankenquelle einschließlich einer 300 PS schnellen Flanke mit geringen Abweichungen – zur Überprüfung des dynamischen Ansprechverhaltens.
- Generator für abgeflachte Sinuswellen bis 1,1 GHz, mit ausgezeichneter Flachheit und Amplitudengenauigkeit – zur Überprüfung der Bandbreite.
- Zeitmarken in impulsartigen Sägezahn-, Rechteck- und 20%-Impulswellenform von 5 Sekunden bis 1 ns mit ±2,5 ppm Frequenzstabilität und geringen Schwankungen – zur Kalibrierung der horizontalen Zeitbasis.
- Eingangswiderstands-, Belastungs- und Überlasttests.
- Wellenformgenerator mit Rechteck-, Sinus-, Dreieckwellenformen – für erweiterte Testmöglichkeiten.
- TV-Auslöser für NTSC, SECAM, PAL und PAL-M mit Zeilenmarke.
- Externer Auslöserausgang für Zeitmarken, schnelle Flanke, Spannungs- und Impulsmodi.
- Impulsgenerator mit variabler Breite und Zeitraum zum Überprüfen der Auslöseimpulsbreite und der horizontalen Ablenkung.
- Externer Bezugstaktgeber.
Einfache Handhabung des SC1100
Zugriff auf die Funktionen des SC1100 erhalten Sie durch Auswahl des Modus "Scope" an der Vorderseite des Kalibrators. Alle Ausgänge sind übersichtlich an der Vorderseite des Kalibrators angeordnet, was das Anschließen erleichtert und Verkabelungsfehler minimiert. Es gibt keine zerbrechlichen, umständlich zu bedienenden Impulsgebersonden.
Technische Daten: 5520A-SC1100 |Optionales 1-GHz-Modul zur Kalibrierung von Oszilloskopen
| Allgemeine Spezifikationen | |
| Gleichspannung | Bereiche: 0 bis ±6,6 V (50 Ω) 0 bis ± 130 V (1 MΩ) Bestwert für ein Jahr: ±0,05 % |
| Wechselspannung (Rechteckspannung) | Bereiche: ±1 mV bis ±6,6 V p-p (50 Ω) ±1 mV bis ±130 V p-p (1 MΩ) Bestwert für ein Jahr: ±0,25 % |
| Schnelle Flanke | Bereiche: 4 mV bis 2,5 V p-p (50 Ω) Bestwert für ein Jahr: <300 ps Anstiegszeit |
| Gepegelter Sinus | Bereiche: 50 kHz bis 1,1 GHz Bestwert für ein Jahr: ±1,5 % Frequenzgang |
| Zeitmarken | Bereiche: 5 s bis 2 ns Nadelimpuls, Rechtecksignal, 20-%-Impuls, Sinussignal Bestwert für ein Jahr: ±3 % |
| Wellengenerator | Bereiche: ±1,8 mV bis ±55 V p-p (1 MΩ) ±1,8 mV bis ±2,5 V p-p (50 Ω) Bestwert für ein Jahr: ±3 % |
| Impulsgenerator | Bereiche: 10 mV bis 2,5 V Amplitude Breite 4 ns bis 500 ns Dauer 20 ms bis 150 ns Bestwert für ein Jahr: ±5 % ±2,5 ppm |
| TV-Trigger | NTSC, SECAM, PAL, PAL-M |
| Eingangsimpedanzmessung | Bereich: 50 Ω bis 1,5 MΩ Bestwert für ein Jahr: ±0,1 % Bereich: 5 pF bis 50 pF Bestwert für ein Jahr: ±5 % |
| Überlastmessung | 5 V bis 9 V (DC- oder AC-Rechtecksignal), 5 bis 60 Sekunden |
Hervorzuhebende Eigenschaften für Gleichstrom
Modelle: 5520A-SC1100 |Optionales 1-GHz-Modul zur Kalibrierung von Oszilloskopen
5520A-SC1100
Optionales 1-GHz-Modul zur Kalibrierung von Oszilloskopen