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ScopeMeter® 190C Series로 파악하기 어려운 파형 이상 포착

오실로스코프, 전기측정의 기본

무작위로 발생하는 글리치(노이즈)를 찾기 위해 오실로스코프 화면의 파형을 뚫어지게 바라보면서, 다음 파형 업데이트 전에 화면을 수동으로 정지하려고 시도하는 것은 거의 불가능한 작업입니다! 하지만 무작위 글리치를 어떻게 포착할 수 있을까요? Fluke ScopeMeter 190III 시리즈에 있는 합격/불합격 테스트 기능을 사용하면 기준을 벗어난 파형이 자동으로 캡처됩니다.

잘 알려진 ITU G703 펄스 마스크 템플릿을 예로 들어 사용자가 생성한 파형 템플릿을 벗어난 파형 이상을 얼마나 쉽게 포착할 수 있는지 설명하겠습니다.

G.703 표준

G703 - E1 템플릿

G.703은 본래 디지털 네트워크를 통한 음성 및 데이터 전송을 위해 도입된 표준입니다. 이것은 PCM 표준과 관련된 ITU 권장 사항(구 CCITT)입니다. PCM에 따른 음성 아날로그-디지털 데이터 변환에는 64kb/s(±100ppm)의 대역폭이 필요하므로 G.703을 위한 기본 단위가 됩니다. 이를 다중화하면 1.544 Mb/s의 T1 및 2.048 Mb/s의 E1이 됩니다.

네트워크 인터페이스의 전기적 특성은 권장 사항 G.703에 설명되어 있습니다. 2.048Mb/s 신호의 신호 한계는 그림 1에 나와 있습니다.

두 가지 다른 마스크(mask)를 사용한 다중 채널 테스트

120 ? 대칭선의 임피던스를 75 ? 동축선에 맞추기 위해 패치 패널과 동축 전송선 사이에 발룬(balun)을 사용합니다. 발룬의 입력 및 출력에는 각각 특정 마스크가 있습니다.

ISDN30 네트워크

ScopeMeter는 다양한 마스크를 사용하여 발룬의 입력 및 출력에서 합격/불합격 테스트를 동시에 수행할 수 있습니다. Fluke ScopeMeter의 부동 및 절연 입력은 원치 않는 접지 발생의 위험 없이 이러한 측정을 가능하게 합니다. 또한 고임피던스 프로브는 라인 부하 및 외부 차동 프로브 없이 다이렉트 측정을 가능하게 합니다.

합격/불합격 템플릿 편집

FlukeView를 사용하면 파형을 스프레드시트로 내보낼 수 있으며 Excel로 파형을 편집하여 사용자 지정 템플릿을 생성할 수 있습니다. FlukeView의 파형을 .csv 형식으로 저장하고 Excel 또는 메모장 등을 사용하여 파형을 편집하고 각 샘플 포인트에 대한 새 값을 입력하여 합격/불합격 테스트를 위한 참조 템플릿을 생성할 수 있습니다.

Excel 편집 ITU G.703 E1-동축 마스크의 예

기준 파형에는 300 포인트 최소-최대 파형이 필요합니다. 그림 3에서 B열은 마스크의 최소값(다이어그램의 파란색 또는 아래쪽 선)을 나타내고 C열은 마스크의 최대값(다이어그램의 빨간색 또는 위쪽 선)을 나타냅니다. 기존 템플릿의 왼쪽 및 오른쪽 영역은 이 합격/불합격 테스트와 관련이 없습니다. 즉, 최소 및 최대 값은 화면 크기에 따라 결정됩니다. 참조 템플릿을 편집하면 FlukeView(4.1버전 이상)를 사용하여 ScopeMeter에 업로드할 수 있습니다.

템플릿은 입력 A에서 테스트하기 위한 참조 또는 입력 B에서 참조로 사용할 수 있습니다. 트리거 포인트는 펄스의 상승 에지의 50%에 있어야 합니다. 정확한 배치를 위해 트리거 기호의 상단이 템플릿의 50% 레벨과 정렬되어야 합니다.

입력 A에서 참조로 사용되는 합격/불합격 템플릿

또한 두 개의 다른 마스크를 사용하여 두 입력 모두에서 합격/불합격 테스트를 수행할 수 있습니다. 입력 A는 120 ? 라인 임피던스에 해당하는 템플릿을 사용하여 발룬의 입력을 모니터링할 수 있는 반면, 입력 B는 75 ? 템플릿을 사용하여 발룬의 출력을 모니터링합니다.

결론

합격/불합격 테스트는 참조 템플릿에 지정된 최소값 또는 최대값을 벗어나는 이벤트를 식별하여 전자 문제 해결 속도를 높입니다.

통신 네트워크 또는 산업 제어 시스템 등 유지 관리 대상에 관계없이 사용자 지정 템플릿과 합격/불합격 표시기의 유연성은 Fluke 190III 시리즈를 효과적인 문제 해결사로 만듭니다.