繁体中文

產品選購指南: 雷射測距儀

使用我們的產品選擇器來查找最符合您需求的雷射測距儀。
移除移除
Fluke 424D Laser Distance Meter
Fluke 419D Laser Distance Meter
停產
Fluke 424D 雷射測距儀Fluke 419D 雷射測距儀
典型測量公差± 1.0 mm± 1.0 mm 
最大測量公差± 2.0 mm± 2.0 mm 
在 Leica 目標板 GZM26 的範圍100 m (330 ft)80 m (260 ft) 
通常範圍80 m (260 ft)80 m (260 ft) 
不利條件下的範圍60 m (195 ft)60 m (195 ft) 
顯示的最小單位6 /30 / 60 mm (10 / 50 / 100 m)6 /30 / 60 mm (10 / 50 / 100 m) 
ø距離雷射點6 /30 / 60 mm (10 / 50 / 100 m)6 /30 / 60 mm (10 / 50 / 100 m) 
雷射光束的測量公差± 0.2° 
外殼的測量公差± 0.2° 
量程360° 
雷射等級22 
雷射類型635 nm,< 1 mW635 nm,< 1 mW 
保護等級IP 54IP 54 
自動關閉雷射90 秒後90 秒後 
自動關閉電源180 秒後180 秒後 
電池壽命 (2 x AAA) 1.5 V NEDA 24 A/IEC LR03最高達 5,000 筆測量最高達 5,000 筆測量 
尺寸 (高 x 寬 x 深)127 x 56 x 33 mm127 x 56 x 33 mm 
重量 (含電池)158 g153 g 
溫度範圍:儲存操作-25 °C 到 +70°C (-13 °F 到 +158 °F),10 °C 到 +50 °C (+14 °F 到 +122 °F)-25 °C 到 +70°C (-13 °F 到 +158 °F),10 °C 到 +50 °C (+14 °F 到 +122 °F) 
校正週期傾斜與羅盤 
最大高度3000 m3000 m 
最大相對濕度+20 °F 到 +120°F (-7 °C 到 +50 °C) 時達 85%+20 °F 到 +120°F (-7 °C 到 +50 °C) 時達 85% 
安全性IEC 標準編號61010-1:2001 EN 60825-1:2007 (Class II)IEC 標準編號61010-1:2001 EN 60825-1:2007 (Class II) 
EMCEN 55022:2010 EN 61000-4-3:2010 EN 61000-4-8:2010EN 55022:2010 EN 61000-4-3:2010 EN 61000-4-8:2010