無論測試方法為何，您都必須瞭解陣列平面輻照度與單位溫度，以評估 PV 電路效能。為確保能準確解讀 I-V 曲線，請注意環境條件，因為輻照度或電池溫度快速變化可能導致 I-V 曲線測試產生誤差。應使用適當的感測器類型和測試方法，例如 Fluke Solmetric PVA 1500 I-V 曲線追蹤工具，以獲得可靠的結果。
利用 Fluke Solmetric PVA 1500 IV 曲線追蹤工具測量並分析 PV 電路校能
測試環境條件
在輻照度高於 700 W/m² 的穩定天候條件下，可獲得最佳效能測試效果。這對於試運轉及重新試運轉期間確立效能基準，以及故障排除都至關重要。標準測試條件輻照度為 1000 W/m2，且現場測試條件越接近標準測試條件，I-V 曲線解讀就越準確。良好的測試條件很可能發生在日照正午前後共 4 小時的時間範圍內。
輻照度測量及其影響
輻照度測量誤差會顯著影響光電校能測試。例如，即便是 Fluke Solmetric PVA -1500 等高品質的 I-V 曲線追蹤工具，準確度仍可能受到輕微的輻照度誤差影響。尤其是太陽附近快速移動的雲層與高空卷雲，特別容易引起問題。使用 I-V 曲線追蹤工具測量效能的優點之一，在於可儲存重要的環境資料及 I-V 資料。如此可避免後續手動資料輸入錯誤導致問題，並大幅減少產生測試條件快速變化相關誤差的可能。
輻照度感測器：為準確測量陣列效能，請將輻照度感測器安裝於陣列平面，並確保感測器的光譜反應與 PV 模組的光譜反應相符。此處顯示的無線裝置包含光譜經校正的矽光電二極體輻照度感測器，且可測量背面溫度和模組傾斜。
感測器選擇
真正的全天日射計並非 I-V 曲線測試的好選擇，因為其具有寬廣、平坦的光譜反應，與晶狀與薄膜模組技術的光譜反應有所不同。手持式輻照度感測器也不是好選擇，因為難以在陣列平面可靠且重複調整其方向。手持式輻照度感測器的角度反應也可能與現場 PV 模組的角度反應有很大的差異。角度反應在一天早晚及雲層遮蔽大量陽光時特別重要。在上述測試條件下，陣列與感測器必須擁有同樣寬廣的天空視野。
反光影響
輻照度感測器不能受到強烈的光學反射影響，如此可能導致讀數不準確。如果輻照度感測器接收的光線顯著多於接受測試的 PV 模組，模型會高估 Isc，模組也會顯得效能不足。在特定情況下，從金屬表面反射的陽光可能會使幅照度讀數過高。此問題通常可藉由改變感測器的安裝位置予以修正。
光電系統的溫度測量
雖然相較於幅照度，PV 模組效能對溫度變化較不敏感，但溫度變化仍是重要因素。輕規熱電偶較適合在不同條件下測量電池溫度。正確放置熱電偶是準確讀數的關鍵。由於陣列和模組邊緣容易冷卻，請將熱電偶置於模組的角落與中心之間，遠離較冷的陣列邊緣。此作法的目的是選擇接近平均背面溫度的感測器連接點。熱電偶頂端必須與 PV 模組的背面保持良好接觸，因為空氣間隙會中斷熱傳遞，導致溫度讀數偏低。每次在相同陣列部分之間移動熱電偶時，請將其置於相同的相對位置，以免發生人為的溫度偏移。